低溫試驗(yàn)箱可以探測(cè)到許多物體，但是對(duì)測(cè)試點(diǎn)的位置和數(shù)量有什么要求？今天的小系列共享是關(guān)于測(cè)試設(shè)備檢測(cè)點(diǎn)的位置和數(shù)量的介紹。

　　 一、在低溫試驗(yàn)箱中，一般有三層測(cè)試表面:上、中、下。上層與頂部的距離一般為工作室高寬比的十分之一。工作室的幾何中心一般是中層，而下層是底層樣品架上方10mm。

 

　　 二、試驗(yàn)技術(shù)設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)樣品數(shù)據(jù)可以通過在這三個(gè)目標(biāo)檢測(cè)層面上處，用于企業(yè)管理研究中心檢測(cè)的試件可以放置在工作室內(nèi)的幾何信息中心，其他方法檢測(cè)試件到工作室壁的間距一般要在各有周長(zhǎng)的1/10，對(duì)于社會(huì)工作系統(tǒng)容量不超過1m³的試驗(yàn)設(shè)備，間距應(yīng)該大于50mm。

 

　　 三、工作室容量與試件總數(shù)的關(guān)系：試驗(yàn)設(shè)備工作室總?cè)萘啃∮?m³時(shí)，試件數(shù)量一般為9件，容量大于2m³時(shí)，試件數(shù)量一般為15件，試件總數(shù)一般隨工作室容量的增加而增加。

 

　　 通過以上介紹，您現(xiàn)在是否對(duì)低溫試驗(yàn)箱檢測(cè)的位置和數(shù)量等有了簡(jiǎn)單的了解？如果你想了解更多，你可以咨詢專業(yè)技術(shù)人員，低溫試驗(yàn)箱是用來測(cè)試電子產(chǎn)品或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的儲(chǔ)存變化和適應(yīng)性的適應(yīng)性，應(yīng)用該設(shè)備可以優(yōu)化選擇某些材料，使其在低溫環(huán)境下性能更好的材料用于相關(guān)領(lǐng)域，隨著客戶對(duì)測(cè)試設(shè)備需求的增長(zhǎng),我公司引進(jìn)了不同尺寸的設(shè)備規(guī)格，設(shè)備采用高密度保溫層，具有很好的保溫效果，同時(shí)采用微機(jī)控制，顯示相關(guān)溫度數(shù)，箱內(nèi)溫度可調(diào)，自動(dòng)化程度高的設(shè)備，歡迎廣大客戶來我公司考察設(shè)備，洽談項(xiàng)目合作。